探針，英文Test probe，是電測試的(de)接觸媒介，是高(gāo)端精密型電子元器件。

PCB測試探針，主要用(yòng)于各種尺寸的(de)PCB PAD的(de)測試，PCB測試探針的(de)選型主要是根據線路闆（PCB）闆的(de)中心距和(hé)被測點的(de)形狀而定的(de)，PCB闆上所要測試的(de)點與點之間越近，選用(yòng)探針的(de)外徑也(yě)就越細。一根探針主要是由外殼、中心針、彈簧、内導體等部分(fēn)所組成，探針如何設計才能滿足客戶所需的(de)測試頻(pín)率、空間，使用(yòng)壽命等條件，上海裏庫電子科技不斷推陳出新，精益求精，不斷設計、研發和(hé)制造出符合客戶需求的(de)多(duō)種PCB PAD測試探針。

如下(xià)

圖一是帶有方向的(de)PCB測試探針，尾端有可(kě)接線纜、SMA、SSMA三種不同樣式可(kě)供選擇

圖二是根據客戶需求定制的(de)PCB測試探針

圖三是五針測試探針/SMA-KHD PCB PAD測試探針

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圖一：

圖二：

圖三：

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